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首頁-產(chǎn)品系統(tǒng)-FTIR系列-IRE200

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IRE-200 膜厚測(cè)試儀

光學(xué)薄膜測(cè)厚儀,IRE-200是一款超高精度的外延層厚度測(cè)量設(shè)備,利用紅外光譜經(jīng)傅里葉變換進(jìn)行快速分析,主要應(yīng)用于Si、GaAs、InP、SiC、GaN等各類外延片的外延層厚度測(cè)量。

更新日期:2024-07-04

型號(hào):

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

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