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在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中,精密涂層技術(shù)因其能夠賦予材料表面特定的功能特性,如防腐、耐磨、導(dǎo)電、絕緣等,而廣泛應(yīng)用于電子、光電、新能源、汽車、航空航天等眾多領(lǐng)域。然而,涂層的質(zhì)量直接關(guān)系到產(chǎn)品的性能和可靠性,而涂層厚度的精確控制則是保證涂層質(zhì)量的關(guān)鍵。在這一背景下,國產(chǎn)膜厚儀以其高精度、可...
膜厚測試儀是一種用于測量材料表面或涂層的厚度的儀器。它在工業(yè)制造、質(zhì)量控制和檢驗(yàn)等領(lǐng)域中被廣泛使用。它是一種非常實(shí)用的儀器,可用于測量各種材料和涂層的厚度。通過使用該測試儀,生產(chǎn)和制造行業(yè)可以更好地控制質(zhì)量并提高效率。一、原理原理基于電磁感應(yīng)法。當(dāng)測試儀接觸到被測物體時(shí),發(fā)射電磁波并在被測物體內(nèi)產(chǎn)生渦流。這些渦流會(huì)改變電磁場,從而使得測試儀可以測量出被測物體的厚度。具體來說,測試儀中的傳感器會(huì)測量反射回來的電磁波的強(qiáng)度和相位差,并根據(jù)這些數(shù)據(jù)計(jì)算出被測物體的厚度。二、構(gòu)成膜厚...
橢偏儀是一種用于研究分子結(jié)構(gòu)和化學(xué)反應(yīng)的光學(xué)儀器,它是一種測量薄膜特性的儀器,可以測量薄膜的厚度、折射系數(shù)、表面粗糙度、晶格結(jié)構(gòu)和各項(xiàng)異性等。它的工作原理基于光的旋轉(zhuǎn)和偏振現(xiàn)象,通過測量樣品對光的旋轉(zhuǎn)和吸收來分析樣品的性質(zhì)。通過測量樣品對光的旋轉(zhuǎn)和吸收程度,可以深入了解樣品的物理和化學(xué)性質(zhì)。它在各個(gè)領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用,并為人們的科學(xué)研究和產(chǎn)業(yè)發(fā)展提供了重要工具。測量原理有些特別,叫做model-based,意思是說橢偏儀無法直接得到上述這些參數(shù),需要通過數(shù)據(jù)擬合才能得到這些參...
穆勒矩陣光譜橢偏儀是一種用于測量物質(zhì)光學(xué)性質(zhì)的儀器。主要由光源、偏振器、樣品室、檢測器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)組成。其中,光源可以是白光源或者單色光源,偏振器則用來控制輸入偏振光的偏振方向。樣品室中放置待測樣品,樣品可以是固態(tài)、液態(tài)或氣態(tài)的。檢測器用于測量輸出偏振光的強(qiáng)度和偏振狀態(tài),數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)則用來計(jì)算出穆勒矩陣元素。穆勒矩陣是一個(gè)四階張量,描述了光場在經(jīng)過樣品后與出射光之間的關(guān)系。穆勒矩陣包含了四個(gè)極化參數(shù):線偏振光的偏振方向、圓偏振光的手征性、橢圓偏振光的長軸方向和偏心率。通過測...
光學(xué)薄膜測厚儀是一種常用于表面薄膜測量的精密儀器,其原理基于薄膜光學(xué)的干涉原理。它的工作原理基于薄膜光學(xué)的干涉原理,通過在薄膜表面照射單色光源,利用薄膜對光的反射和透射產(chǎn)生的相位差來計(jì)算出薄膜厚度。具體來說,當(dāng)光線穿過薄膜時(shí),由于薄膜表面反射和內(nèi)部反射所引起的相位差,使得經(jīng)過反射和透射后的光線產(chǎn)生了干涉現(xiàn)象。而干涉條紋的間距與薄膜厚度成正比關(guān)系,因此可以通過測量干涉條紋的間距來計(jì)算出薄膜的厚度。光學(xué)薄膜測厚儀廣泛應(yīng)用于各種薄膜的測量工作中,包括金屬薄膜、半導(dǎo)體薄膜、光學(xué)薄膜等...
光譜橢偏儀(SpectroscopicEllipsometer)是一種用于研究材料光學(xué)性質(zhì)的工具,其原理基于材料對不同偏振方向的入射光反射率的差異。通過測量材料對不同波長和偏振態(tài)的光反射率,可以獲得關(guān)于材料光學(xué)常數(shù)、厚度、表面形貌等信息。主要用于測量材料在不同波長下的旋光性質(zhì)和線偏振性質(zhì),可以研究分子結(jié)構(gòu)、化學(xué)鍵和對稱性等信息。主要由光源、偏振器、樣品架、檢測器、計(jì)算機(jī)等部分組成。在測量過程中,先通過偏振器產(chǎn)生線偏振光,然后將其垂直或平行地入射到樣品表面。樣品反射回來的光被檢...
光學(xué)薄膜測厚儀是一種用于非接觸式測量物體厚度的儀器,它可以通過分析光線在物體表面反射和透射的行為,來確定物體的厚度。下面將詳細(xì)介紹其原理及使用方法。一、原理光學(xué)薄膜測厚儀采用了薄膜干涉的原理。當(dāng)光線穿過一個(gè)平行板薄膜時(shí),由于路徑長度的不同,光線會(huì)發(fā)生相位差,導(dǎo)致反射和透射的光強(qiáng)度發(fā)生變化。顯然,這個(gè)相位差與光線波長、入射角、薄膜厚度等因素有關(guān)。利用這些因素的變化規(guī)律,我們就可以通過測量反射和透射的光強(qiáng)度,來計(jì)算出薄膜的厚度。二、使用方法1、薄膜樣品的制備:首先需要制備一塊平滑...
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