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在發(fā)展中求生存，不斷完善，以良好信譽和科學的管理促進企業(yè)迅速發(fā)展
光譜橢偏儀（SE）是一種高精度的光學測量儀器，廣泛應用于薄膜材料的表征與質量控制。通過測量反射光的偏振變化，光譜橢偏儀能夠提供薄膜的厚度、折射率、消光系數等重要參數，進而評估薄膜的光學性質、表面質量以及結構特征。近年來，隨著薄膜技術的進步，橢偏儀在薄膜質量控制中的應用取得了顯著的...
華中科技大學聯合武漢頤光科技科技有限公司開發(fā)的“高精度寬光譜穆勒矩陣橢偏測量關鍵技術與納米測量應用”項目榮獲湖北省技術發(fā)明一等獎。此獎項由省人民政府設立，經省科學技術獎勵評審委員會評審、省科學技術獎勵委員會審議，湖北省人民政府決定后終授予，旨在深入實施創(chuàng)新驅動發(fā)展戰(zhàn)略，建設創(chuàng)新強省，獎勵為省科技事業(yè)進步、經濟社會發(fā)展作出突出貢獻的科學技術人員和組織。穆勒矩陣橢偏儀廣泛應用于IC制造、平板顯示、光電子器件、光伏太陽能、柔性電子等國家新興戰(zhàn)略產業(yè)中的納米材料、納米結構與納米器件的...
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