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首頁-企業(yè)新聞-光譜橢偏儀的基本原理

光譜橢偏儀的基本原理

更新時間:2023-05-10       點擊次數(shù):424
  光譜橢偏儀(Spectroscopic Ellipsometer)是一種用于研究材料光學性質(zhì)的工具,其原理基于材料對不同偏振方向的入射光反射率的差異。通過測量材料對不同波長和偏振態(tài)的光反射率,可以獲得關(guān)于材料光學常數(shù)、厚度、表面形貌等信息。主要用于測量材料在不同波長下的旋光性質(zhì)和線偏振性質(zhì),可以研究分子結(jié)構(gòu)、化學鍵和對稱性等信息。
 
  主要由光源、偏振器、樣品架、檢測器、計算機等部分組成。
 
  在測量過程中,先通過偏振器產(chǎn)生線偏振光,然后將其垂直或平行地入射到樣品表面。樣品反射回來的光被檢測器接收,并轉(zhuǎn)換為電信號傳輸?shù)接嬎銠C進行處理。根據(jù)光的反射率隨波長和偏振態(tài)的變化規(guī)律,可以計算出樣品的復折射率和復吸收系數(shù),從而得到其光學性質(zhì)的詳細信息。
 

光譜橢偏儀

 

  光譜橢偏儀具有廣泛的應用領域,如半導體、涂層、生物醫(yī)學等。其中,在半導體工業(yè)中,它可以用于表征晶片表面的光學性質(zhì),以及薄膜材料的生長過程和熱處理等對其光學性質(zhì)的影響。在涂層領域中,它可以用于研究涂層材料的折射率、厚度以及表面形貌等信息,以優(yōu)化涂層工藝和改進涂層性能。在生物醫(yī)學方面,它可以用于分析生物分子的構(gòu)型和結(jié)構(gòu),以及研究生物分子與其他物質(zhì)之間的相互作用。
 
  總之,光譜橢偏儀是一種強大的工具,可以提供關(guān)于材料光學性質(zhì)的詳細信息,對于許多領域的研究和應用都有著重要的意義。它在化學、物理、生物學等領域的研究中具有廣泛應用,如藥物分析、光電子學、生物醫(yī)學等方面。

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